专利权的转换IPC(主分类):G06F 17/50挂号成果日:20170425改造事故:专利权人转动前职权人:山东华芯半导体有限公司更动后权力人:西安紫光国芯半导体有限公司转化事件:地址转动前权柄人:250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件大厦B座二层蜕化后职权人:710055 陕西省西安市高新6途38号升起革新重点A座4层更动事宜:结合专利权人调动前权柄人:西安紫光国芯半导体有限公司专利权人的姓名大概名称、地址的蜕化IPC(主分类):G06F 17/50改变事务:专利权人蜕化前:山东华芯半导体有限公司变动后:山东华芯半导体有限公司转化事件:场所转换前:250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件大厦B座二层改动后:250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件大厦B座二层改变事务:专利权人转换前:西安华芯半导体有限公司改观后:西安紫光国芯半导体有限公司授权实际视察的结果IPC(主分类):G06F 17/50申请日:20110330公然

　　本创办目的是供给一种集成电路动态时序检测方法，其料理了现有静态时序验证工具不能在寻常仿真工作状态下举办时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数对象权谋题目。该集成电说动态时序检测办法，囊括以下次序：1】安置奏效仿线，直至功能仿真完结。本兴办可在芯片的寻常仿真干事情景下检查器件数据暗号对时钟暗记的建设和支柱韶华，更符关实质处境，更合理。

　　2.1】检测数据变更，按序纪录数据转化的韶光点A1、A2……An，直至时

　　4】几次轨范2和标准3，直至成效仿线.一种集成电路动静时序检测举措，其特点在于：包括以下步骤：

　　2.1】检测数据更动，挨次纪录数据转移的时间点A11、A12……A1n，直至时钟上升沿到来；

　　2.2】检测时钟高涨沿的到来，顺次记载时钟热潮沿到来的时间点B21、B22……B2n，直至检测到下一个数据转化，纪录数据变动的年光点C11；

　　本创造涉及一种消息检测器件数据暗记对时钟记号树立和维持岁月的设施。本领背景思要保证超大规模集成电途谋略的无误性须要惬心两个方面乞求：第一，芯片电途根蒂劳绩的正确性；第二，芯片电途中整个的器件时序的精准性。要包管时序准确就必要时序验证，即器件数据暗记对时钟旗号的制造和支持时间

　　2.1】检测数据转化，顺次记载数据转嫁的时间点A1、A2……An，直至时

　　2.1】检测数据转变，依序纪录数据改造的岁月点A11、A12……A1n，直至

　　B22……B2n，直至检测到下一个数据改造，记录数据更改的时光点C11；

　　谋略当前时间数据保持韶华TT2＝C21-B22，参拜图中虚线)和虚线)之间的时

　　经过图2，300000ps到12e6ps范畴内的数据创立韶光和数据撑持光阴可

　　《集成电途消息时序检测设施.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《集成电路消息时序检测方法.pdf（7页重视版）》请在专利盘问网上寻求。

　　1、(10)申请揭橥号 CN 102254055 A (43)申请揭橥日 2011.11.23 CN 102254055 A *CN102254055A* (21)申请号 9.X (22)申请日 2011.03.30 G06F 17/50(2006.01) (71)申请人 山东华芯半导体有限公司 所在 250101 山东省济南市高新区新泺大街 1768 号齐鲁软件大厦 B 座二层 申请人 西安华芯半导体有限公司 (72)制造人 王斌 叙杰 (74)专利署理机构 西安智邦专利牌号代劳有限 公司 61211 代办人 徐平 王少文 (54) 创造名称 集成电路动态时序检测设施 (5。

　　2、7) 纲目 本制作目标是供应一种集成电路消息时序检 测办法， 其治理了现有静态时序验证东西不能在 正常仿真做事情况下实行时序验证且无法自定义 时序验证的器件的种类和数标的措施题目。该集 成电说动态时序检测步骤， 蕴涵以下秩序 ： 1】 设 计劳绩仿线】 纪录检测岁月点 ； 3】 策画数 据 ： 4】 屡屡次序 2 和顺序 3， 直至收效仿真完了。 本发现可在芯片的正常仿真劳动状况下检讨器件 数据记号对时钟旗号的缔造和维持光阴， 更符闭 实质状况， 更合理。 (51)Int.Cl. (19)中华公民共和国国家常识产权局 (12)创制专利申请 权力乞请书 1 页 表明书 3 页 附图 。

　　3、2 页 CN 102254061 A1/1 页 2 1. 一种集成电路消息时序检测方法， 其特点在于 ： 包括以下序次 ： 1】 打算效果仿线】 记录检测年光点 ： 2.1】 检测数据转动， 顺序记载数据改动的时光点 A1、 A2An， 直至时钟高潮沿到来 ； 2.2】 检测时钟上涨沿的到来， 按次记录时钟上涨沿到来的韶华点 B1、 B2Bn， 直至检 测到下一个数据更改， 记录数据更改的韶光点 C ； 3】 设计数据 ： 3.1】 策划数据缔造光阴 TS B1-An； 3.2】 安顿数据撑持韶光 TT C-Bn； 4】 频频序次 2 和步调 3， 直至收效仿线、成电讲消息时序检测办法， 其特性在于 ： 囊括以下序次 ： 1】 安置收效仿线】 记载检测时光点 ： 2.1】 检测数据更动， 按次纪录数据更改的年华点 A11、 A12A1n， 直至时钟飞腾沿到来 ； 2.2】 检测时钟上涨沿的到来， 循序记载时钟飞腾沿到来的时光点 B21、 B22B2n， 直至 检测到下一个数据转嫁， 记载数据变动的韶华点 C11； 3】 一再顺序 2， 直至成果仿真了结 n 个数据的制造和撑持历程 ； 4】 依次方案 n 个数据的数据树立韶华 TSn Bn1-Ann和数据支柱年华 TTn Cn-Bnn。 权 利 要 求 书 CN 102254055 A CN。

　　5、 102254061 A1/3 页 3 集成电叙消息时序检测举措 手法规模 0001 本创作涉及一种消息检测器件数据记号对时钟暗号创修和支持时间的办法。 本领布景 0002 想要担保超大领域集成电路策动的切确性必要惬心两个方面央浼 ： 第一， 芯片电 路根本成果的准确性 ； 第二， 芯片电叙中全体的器件时序的精准性。 要包管时序切确就必要 时序验证， 即器件数据信号对时钟密码的创制和坚持韶华的精准性。 0003 现有器械要么只能验证收获， 要么只能验证时序， 不能同时包管两个方面。 而且现 权且序验证东西 ( 即静态时序验证 ) 也有很大的范畴性。 创办内容 0004 本发明方针是需要一种集成。

　　6、电途动态时序检测方法， 其料理了现有静态时序验证 东西不能在正常仿真做事处境下举行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数 倾向手法问题。 0005 本创作的第一种技巧管制安插是 ： 0006 一种集成电途消息时序检测办法， 席卷以下顺序 ： 0007 1】 准备奏效仿线】 记载检测年华点 ： 0009 2.1】 检测数据蜕化， 循序记载数据转折的时间点 A1、 A2An， 直至时钟飞腾沿到 来 ； 0010 2.2】 检测时钟热潮沿的到来， 递次记载时钟上涨沿到来的韶华点 B1、 B2Bn， 直 至检测到下一个数据调动， 纪录数据改变的年华点 C ； 0011 3】。

　　7、 铺排数据 ： 0012 3.1】 筹划数据制造时光 TS B1-An； 0013 3.2】 计算数据保护光阴 TT C-Bn； 0014 4】 屡次法式 2 和标准 3， 直至劳绩仿线 本创建的第二种措施统治打算是 ： 0016 一种集成电叙动态时序检测步骤， 席卷以下次第 ： 0017 1】 安排见效仿线】 纪录检测光阴点 ： 0019 2.1】 检测数据调动， 递次记载数据改变的韶光点 A11、 A12A1n， 直至时钟飞腾沿 到来 ； 0020 2.2】 检测时钟高潮沿的到来， 依次记录时钟飞腾沿到来的韶华点 B21、 B22B2n， 直至检测到下。

　　8、一个数据改观， 记载数据蜕化的时间点 C11； 0021 3】 重复标准 2， 直至劳绩仿真杀青 n 个数据的创设和支柱经过 ； 0022 4】 按序规划 n 个数据的数据创制年光 TSn Bn1-Ann和数据维护光阴 TTn Cn-Bnn。 说 明 书 CN 102254055 A CN 102254061 A2/3 页 4 0023 本制造的权术效能是 ： 0024 1、 本创设可在芯片的平常仿真处事状态下磨练器件数据暗记对时钟记号的树立 和保卫光阴， 更符闭本质情景， 更合理。 0025 2、 本制造可能自定义需要考验的器件的种类和数目 ( 可是以芯片中全数器件也 可所以一面器件 )， 。

　　9、音讯博鱼体育更全部。 0026 3、 本建造不妨即时得出时序检测结尾， 也也许收效仿真后再策画时序以进步检测 快度。 附图声明 0027 图 1 是本创建的实在算法示志愿 ； 0028 图 2 是按照本创设办法针对芯片中某一器件数据暗号和时钟暗记， 在分裂的仿真 条件下， 得回末了图。 整体推行机谋 0029 如图 1 所示， 在仿真历程中提取需要查验暗号的策划顺序如下 ： 0030 策动功劳仿真起初， 拜访图中虚线 发掘数据转换， 记载其韶光 A11， 参拜图中虚线 发今朝钟高潮沿， 记录其年光 B11， 拜访图中虚线)， 与上一次数据变化打算， 得。

　　10、 出数据制造时间 TS1 B11-A11， 参见图中虚线) 和虚线) 之间的时间段 ； 0033 发目今钟飞腾沿后第一个数据改革并宗旨纪录其年华 C11， 拜访图中虚线)， 计 算如今光阴数据支柱岁月 TT1 C11-B11， 拜访图中虚线) 和虚线) 之间的时光段 ； 0034 开采数据转嫁， 纪录其韶华 A21， 参见图中虚线 挖掘数据转折， 记载其韶光 A22， 拜见图中虚线 发目下钟高潮沿， 记录其时间 B21， 参拜图中虚线)， 与上一次数据蜕化安放， 得 出数据创造岁月 TS2 B21-A22， 参见图。

　　11、中虚线) 和虚线) 之间的韶光段 ； 0037 发此刻钟飞腾沿， 记录其韶光 B22， 拜见图中虚线 发此刻钟上升沿后第一个数据更改， 记录其岁月 C21， 拜见图中虚线)， 盘算此刻 岁月数据支柱年华 TT2 C21-B22， 拜访图中虚线) 和虚线) 之间的年华段 ； 0039 发掘数据更改， 纪录其时间 A31， 参见图中虚线 发目今钟热潮沿， 记录其岁月 B31， 拜见图中虚线)， 与上一次数据改观策画， 得 出数据设立年光 Ts3 B31-A31， 拜见图中虚线) 和虚线) 之间的韶光段。。

　　12、 0041 末了， 将所获取的整个设置时间和支柱时光分类并打印成图。 0042 能够将几次仿真 ( 分裂工艺， 不合电压， 分别温度 ) 得到末尾打印到团结个图中。 0043 上图中的数据树立岁月和数据维护年光也可能在仿真完毕后连合布置、 分类、 打 印。 0044 图 2 是芯片中某一器件数据暗记对时钟密码， 在分化的仿真条件下， 获得最后图 ； 此中 ： 0045 波形 1 ： 2sigma 快 N 管疾 P 管高压低温条目下建树韶光最后 ； 0046 波形 2 ： 平凡 N 管平平 P 管泛泛电压室温条目下创造年光收场 ； 说 明 书 CN 102254055 A CN 10225406。