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　　依据以上磋议的筑设旨趣，他们们们设计了XQV100型FPGA 电谈动静老化板，如图3 所示。建设模式接纳主串方式(Master Serial Mode)，这种摆设模式有利于简化PCB 的布置，并且主串模式的筑设时钟源于FP博鱼体育GA里面，不须要外部其它再供应。为了使FPGA电说劳动在主串模式，电途的M1、M2、M3 引脚都款待地。同时，该模式下的外部装备保管器必要采取串行数据传输的保管器，在这里全部人接纳Xilinx公司的xcf02s 存在器，内中保全容量最大可达2 Mbit。

　　FPGA电途消息老化板采用400mm×400mm的双层PCB 板，在调整老化板时选取去耦及高、低频RC滤波，对直流电源和信号源采用限流步调。每块老化板上安插4 个老化工位，为了便于在线调试电说，每个工位由一个XCF02S、一个JTAG 接口、一个XQV100 组成。FPGA 芯片消息修设的逻辑圭表安置于xcf02s Flash留存器中。FPGA动静老化的配置法式采用VHDL 谈话编写，采用ISE(V9.1)东西举办综合，利用ModelSim(V6.0)举行功效仿制，其实在听命是把整体输入、输出管脚分五组，每组都告竣32 分频成效，每组由外部供给一个1MHz 的方波记号作为输入。野心机阅历Xilinx 专用的JATG 下载线将编译过的修设标准下载到xcf02s 电途中。当FPGA电路上电时，xcf02s 中的筑设圭表自动遵从串行的体例下载到FPGA 的内中RAM生存器中，FPGA 死守程序的功效运行。每个电路取舍一个输出端口，输出频率在1Hz 当中，在外部连接一个LED 灯行为输出监控，在老化的经过中可资历该灯观望电途是否寻常事务。

　　全班人以XQV100 型FPGA电路为例，进行动态老化和静态老化较量实验，考试请求弃取温度为125℃，期间160h。随机抽样60 只常温测试合格电路，各取30 只分别依照动态老化实验本事和静态老化试验技艺进行老化。在动静老化通电时，保障每只电谈都有输出;静态老化尝试时，保证电源电压输入正确。每1h 记载一次，确认是否有老化独特情形。

　　电途在历程26h 后，其中有1 只(6#)电叙LED不闪动，开头困惑照旧失效，但并没有登时取出，和其你们们电路相通进程160h 老化，过程126h 后21# 电路的LED 不闪灼，同样无间陪试。在老化检验终结后96h内完成了整个电叙的常温电测试，开采6# 和21# 电途效劳失效，另外电途都合格，确切情状详见表1。

　　消息老化考试才智和静态老化测验手段比较，动静老化考查在阅历外围装备电说的轨范驱动，使电途的内里功用模块平昔处于高快的使命状态，相反静态老化时尽量有电压加载，但没有建设法式驱动电路事业，内部模块并从来处于自在状况，于是FPGA 电途在消息老化时，所受到的应力央浼特别坑诰，更容易浮现电谈自身潜在的舛讹，从而发展了电道自己的切实性。

　　目下，国内举行FPGA 电谈的老化大片面照样选取静态老化尝试本事。特色是电途老化时不做事，内中门阵列不翻转，老化过程中无法占定电说是否有格外。FPGA电道动静老化试验手段的竣工束缚了这些题目，扩张了输出监测点，保证了电途老化过程无独特，从而进取了电博鱼体育路的真实性。

　　本文阅历对FPGA 电路加载摆设进程的历程和真理举办探索，调动了FPGA 电途消息老化的实验伎俩，并在工程施行中获得了乐成的完毕和运用。

　　尽量这里支配的电途和设备过程针对Xilinx 公司的Qpro Virtex Hi-Rel 系列XQV100电途，不外对其全班人系列和其所有人公司FPGA 的动态装备也有参考感化。本技巧尽量告终了动态老化的倾向，但照样存储着缺陷：现有FPGA电途的内中门数如故超出了100万门，通常的摆设法度只能占用FPGA 电途的个别里面资源，并且用到的D 触发器多了，则移位寄放器就少，平素是捉襟见肘，所以要做到100%的消息老化尝试还保全着必定的穷苦。