概要:为了取代早期失效的IC芯片,进一步进取整机的产品质料,文章针对编制采纳的上位机、下位机,经历串口通信,构成分布式检测体例,对IC芯片实行高温老化并检测。而且本体系已得胜行使于本公司筛选室对入厂的IC芯片进行老化筛选,实验出成果良好。中图分类号:TN47文献标识码:A著作编号:1006-8937(2010)12-0019-02随着消歇技术的迅猛荣华,半导体集成电道被普及地行使于各个边界,集成电路的信得过性也越来越获得人们的重视。众目睽睽,电子元器件的失效田地因办事阶段(加电应力时间)而异,可分为“早期失效”、“随机失效”和“耗升天效”。批量很大的一批产品,未经任何老化办法即列入操纵,会展示该批产品在最先时失成就很高,但很速就冉冉消浸,这便是“早期失效”气象,其缘由是由于元器件的修设缺乏所至。对电子元器件进行老化筛选实验的谋略正是剔除易出现“早期失效”的元器件,使批量元器件裁减失效期,提进步入安静的干事期,从而前进整机真实性。在国内同类产品中,经闭系用户运用后反映较好的是杭州真实性仪器厂坐褥的高温动静老化体系,它通用性好,测试工位多,但缺陷是测验成就少,只能考试老化板两边几个芯片的输出旗号,别的的测不到,且代价比拟高。比拟之下,作品介绍的打算安置虽没有那么多工位,但针对性强,而且对每个输出管脚都举办完美性实验,少有据可查(生计汗青数据),还有自动巡检服从等,价格也比照低。3计划的基本法则 该体例是一个集暗记检测、数据传输和摒挡于一体的实时数据收罗与打点体系。要求功能好,处事坚固真实,驾驭、使用、维修无邪便当。策画的根基规则如下:①体系各项指标满足闭系的国家表率。②部件采纳恳求材料好,安定、可靠,以保险编制具有高尚的性能。③体例的组织应合理,创立要经济,以达到最佳功用价值比。④因器件老化时期较长(数十小时) ,在此时期上位机或者被闭合或用于另外任务,因此特地建设了测验板(含孑立CPU)行为下位机,出现被老化IC所需的种种干事灯号、并凭据上位机的乞请完成各类数据的搜求及上传管事。⑤上、下位机之间的通讯接受RS-232规范。⑥修立兴办一切调解、齐截,便于掌握、维修。①单板老化数量。DIP 14和DIP 16:单板最多可老化16片;DIP 20:单板最多可老化12片。②单次老化品种。依据IC所需劳动电压别离,最多可同时老化4种不同劳动电压的芯片;假使是近似的任务电压,则最多可同时老化14种区别的芯片。③系统最大老化工位数。同时老化14块板,每芯片可检测最大输出途数据为8路。以DIP14(或DIP16)为例,体例可老化数量为:14×16=224片。①功能。可对门电路、计数器、触发器等规范的集成电途举办高温老化并动态测试;可实时张望被老化芯片的加载记号及逻辑成就;齐全数据存在效用,便利查看。⑥输入灯号指标。范例:方波;100 kHz以下(含100 kHz)占空比20 %～80 %可选,100 kHz(不含100 kHz)以上为50 %;频率:8～200 kHz,体例供给12个固定频率点供用户采选。⑦高温烘箱(空载)。具有超温双重主动区分断电爱护功能;温度界限:RT+10℃～200℃;运用碰着:-10℃～50℃;升温快度:平均每分钟≥2.5℃;温度匀称度:≤ 3℃;温度差错:≤±2℃;管事电源:AC 220V±10%。⑧单板老化电源。输出鸿沟:实验板端:DC 4.75～5.25 V/2A;烘箱里面转接端:DC 4.75～5.25 V/0.45A。具有过压保卫成绩。⑨单板线性电源。输出鸿沟:DC15±0.5V/机内负载、DC-15±0.5V/机内负载、DC5±0.5V/机内负载,输出共地。具有过压、过流维护效劳。⑩软件。由上、下位机两组软件构成软件编制,上位机数据办理软件选取VB 6.0 体系,下位机数据收罗软件采纳MCS-96汇编语言编制。体系用PC机手脚上位机,用Intel 80196单片机组成下位机体例,阅历RS-232口通讯,构成散布式检测体例。上位机行为管理机,可对下位机上传的数据音讯进行收拾,竣工监测、呈现及料理效用,下位机则给被老化IC施加所需的种种暗号,并依照上位机的仰求落成数据的实时搜集和预办理管事,并将数据上传至上位机。 思量到调试、维建的便利,老化板与实验板之间采取一对一的打算,始末串行通讯与上位机合连,多机通讯模式。上位机软件采取VB6.0措辞体例,具有交情的人机对话界面,便于左右人员运用,下位主机征求软件接受MCS-96汇编言语体例。①下位机体例构成。80C196 测试板;老化板;编程板;线性电源;老化电源;L-BX1老化电源保障板/ L-BX2老化电源保障板;X-BX1线性电源保证板/ X-BX2线C改动器,凭借上位机的指令对老化板施加所需的各式旗号,同时履行限制及监测,并将征采到的数据上传给上位机实行料理流露。5.2.1 下位机软件 采取MCS-96汇编叙话编程,编译体系为E2000P仿真系列编译软件。出力:编制自检:检测尝试板本身体系是否全豹复位;老化参数传递:经受上位机发送的实验参数,进行处理、生计,以备后用;实时检测:履历上位机发送的指令,对编制定时采样,并将采样的数据进步位机发送;老化最初:担当到上位机发送的老化最先指令,尝试板起初向老化板加老化电压,凭借接受到的老化参数,向老化板施加旗号,同时向老化板供给IC芯片老化时所需的电源电压,起首老化,并进取位机返回起初指令;老化历程中的输出电压检测:检测是否平常老化。上位机为Windows负责平台,数据摒挡软件接收 VB6.0编制。体例软件接受机合化序次计划措施,易于删改延长,整机编制也易于扩充。由于构造简单,便于现场装备调试。系统人机界面交谊,行使掌管纯真、方便,易于独揽人员利用。效劳:系统自检模块:首要与下位机举行数据通讯后,体认下位机各尝试板的性能形状,便是否能寻常做事。采取典范RS-232C接口,波特率为:9600 bps;参数设定模块:在此模块内可设定各个下位机老化IC的型号、所需的密码频率、占空比及老化时期等参数,并发送下位机;实时监测模块:凭据挑选,可监测体例形状和单个实验板状态。在体例形态里,可监测整个老化板的处事情形,是否正在干事及老化品种。在单板样式中,可监测每个试验板上归纳到每个IC的细致管事景况,并可经验示波器,将波形吐露出来;史乘盘查模块:首要供给以往的IC老化现象;编制办理模块:主要用于编辑操作人员代码和灯号;调试模块:用于设备调试台处事参数和调试效果;援手模块:供应系统在线本事特色①硬件特质。编制构造纯正,便于现场装置调试,便于使用,并且通用性强,楷模化水准高,易于联网和增多。②软件特质。由于下位机软件选取汇编发言体系,数据汇集快度速,上位机软件接收VB6.0系统,便于对多量数据进行操持和收拾,易于筑库,利用支配纯洁,编制界面友爱,担任手段纯洁、便利,便于职掌人员利用。而且两组软件均选用模块化机关的策画措施,便于以来效劳上的妄诞。①体系运行环境打算。体例选取一点接地的确切接法,以保障体系中制造安静和人身平和。②数字滤波。为扑灭随机烦扰,在数据征采微机软件设计中领受了数字滤波本领,将过滤后的数据通报给上位机,以进行标度调换和综关拾掇。7结语 集成电路高温动态老化试验编制,是依据公司本质须要,依赖现有的人力、物力开垦的专用试验开发。通盘体系涉及强电控制、测度机、收集通信、软件、效仿及数字体例设计等诸多方面。本系统已得胜利用于公司筛选室对入厂的IC集成电途实行老化筛选,出力杰出。本体系在陕西讯歇家产厅获2006年度科技效力三等奖。[1]童本敏.表率集成电途数据手册TTL集成电路[M].北京: 电子资产出版社,1989.[2]宋春荣.通用集成电路速查手册[M].济南:山东科学工夫 出版社,1995.[3]孙涵芳.51/96系列单片机原理及使用[M].北京:北京航空 航天大学出版社,2004.[4]余载泉,李玉和.Protel实战熟练[M].北京:人民邮电出版 社,2000.

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